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탄탈륨 및 알루미늄 콘덴서 테스트 및 분류기

HY-CS3025 반도체 핸들러는 칩 탄탈 커패시터 및 다층 알루미늄 커패시터의 육안 결함 검사, 전기적 성능 테스트 및 완제품 포장에 특화되어 있습니다.

  • 상표 :

    HYRNUS
  • 품목 번호 :

    HY-CS3025
  • 주문량(최소 주문 수량) :

    1 Set
  • 보증 :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • 지불 :

    T/T
  • 리드 타임 :

    7-35 Days
  • 제품 원산지 :

    China
  • 탄탈륨 및 알루미늄 콘덴서 테스트 및 분류기

    제품 소개

    HY-CS3025 테스트 및 분류기 이 장비는 테이프 공급 및 벌크 공급 방식 모두 지원하며, 성형, AI 시각 검사, 고정밀 전기 성능 테스트, 완제품 테이핑을 하나의 플랫폼에 통합했습니다. 수입산 DD 모터를 장착한 표준 터릿을 채택하여 ±0.01mm의 위치 정밀도와 최대 60,000 UPH의 시간당 처리량(UPH)을 제공합니다. 정전 용량 테스트는 높은 반복성과 우수한 절연 성능을 자랑합니다. AI 비전 시스템은 50μm 이상의 정밀도로 다면 검사를 지원하며, 인더스트리 4.0 데이터 시스템과 연동하여 완벽한 엔드투엔드 추적성을 제공합니다.

    주요 시험 및 환경 기능

    모듈식 설계로 원클릭 전환이 가능하여 가전제품, 자동차 전자제품 등 다양한 분야에 적용할 수 있습니다. 97% 이상의 검사 정확도를 자랑하며, 생산 라인의 품질과 효율성을 향상시키고 운영 비용 및 불량 관련 비용을 절감하는 데 도움을 줍니다.

    sorting machine

    응용 시나리오

    칩 탄탈 콘덴서 및 다층 알루미늄 콘덴서 테스트를 포함하되 이에 국한되지 않습니다. 특별한 요구 사항이 있으시면 당사로 문의해 주십시오..

    기술 사양

    사양
    모델HY-CS3025
    칩 패키지 크기사례 A, B, C, D 등
    입력 형식대부분
    출력 형식테이프 앤 릴(T&R)
    장비 UPH≥ 14K (누설 전류 충전/방전 시간 ≤ 48초)
    주요 테스트 항목정전 용량 및 손실 계수, ESR, 누설 전류, 잔류 전압
    전면 및 후면 검사검사 정확도 > 50µm; 대비 > 30에서 감지 가능. 결함 유형: 흐릿한 라벨(혼합 구성 요소), 긁힘, 핀홀, 깨짐, 코어 누락, 균열, 오염, 리드 변형, 리드 들뜸, 리드 길이 과도/부족, 납-구리 노출, 리드 넘침, 리드 버, 가장자리 움푹 패임, 주석 수염 등.
    장비 크기2100mm(길이) × 1500mm(폭) × 2000mm(높이)

    제품 상세 정보

    chip sorter

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문의하기 :allen@hyrnus.com